物質(zhì)的檢測方法有哪些

　　均質(zhì)晶體是檢測的晶體特光學各向同性，而對于任何方向的光的檢測則是會發(fā)生折率性。

　　因此在正交偏光鏡下進行檢測的均質(zhì)晶體是檢測的晶體特光學各向同性，則不會形成干涉現(xiàn)象。

　　而對于一軸晶體物質(zhì)上所出現(xiàn)的干涉現(xiàn)象，則是由于晶體物質(zhì)中的切片方向不同可以分為垂直光軸切片與

　　斜交光軸切片和平行光軸切片三種。

　　因此對于晶體物質(zhì)的垂直光軸的切片來說，它的晶體物質(zhì)的光體率的光軸則是平行于顯微鏡的鏡筒中心軸。

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